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    1.Correlation between active layer thickness and ambient gas stability in IGZO thin-film transistors erg

    Xu, G, Lin, MF, Mao,     More...

    JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS[0022-3727], Published 2017, Volume 50, Issue 2,

    收錄情况: WOS SCOPUS

    WOS核心合集引用:  2022影響因子:  3.4  发表年影響因子:  2.373 

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