1.BEAM TRACKING METHOD, APPARATUS, AND SYSTEM
Rong WEN, Kunpeng LI More...
專利權人: Huawei Technologies More...
申請號: US15467813 申請日: 2017/3/23
公開(公告)號: US20170195022A1 公開(公告)日期: 2017/7/6
IPC分類號: H04B7/0456; H04W72/04
法律狀態: 授权
同族信息: EP3185453B1; US20170195022A1; WO2016044997A1; EP3185453A1; EP3185453A4; US10320457B2
2.BEAM TRACKING METHOD DEVICE AND SYSTEM
WEN Rong, LIU Kunpen More...
專利權人: HUAWEI TECHNOLOGIES More...
申請號: IN201737014096 申請日: 2017/4/20
公開(公告)號: IN201737014096A 公開(公告)日期: 2017/8/25
IPC分類號: H04L1/06
法律狀態: 暂缺
同族信息: IN201737014096A
3.BEAM TRACKING METHOD, DEVICE AND SYSTEM
WEN Rong, LIU Kunpen More...
專利權人: Huawei Technologies More...
申請號: EP14902303 申請日: 2014/9/23
公開(公告)號: EP3185453A1 公開(公告)日期: 2017/6/28
IPC分類號: H04L1/06
法律狀態: 授权
同族信息: EP3185453B1; US20170195022A1; WO2016044997A1; EP3185453A1; EP3185453A4; US10320457B2
4.BEAM TRACKING METHOD, DEVICE AND SYSTEM
WEN Rong, LIU Kunpen More...
專利權人: HUAWEI TECHNOLOGIES More...
申請號: WOCN14087207 申請日: 2014/9/23
公開(公告)號: WO2016044997A1 公開(公告)日期: 2016/3/31
IPC分類號: H04L1/06
法律狀態: 进入国家阶段-PCT有效期满
同族信息: EP3185453B1; US20170195022A1; WO2016044997A1; EP3185453A1; EP3185453A4; US10320457B2
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