排序方式:

1.BEAM TRACKING METHOD, APPARATUS, AND SYSTEM

Rong WEN, Kunpeng LI     More...

專利權人: Huawei Technologies     More...

申請號: US15467813 申請日: 2017/3/23

公開(公告)號: US20170195022A1 公開(公告)日期: 2017/7/6

IPC分類號: H04B7/0456; H04W72/04

法律狀態: 授权

同族信息: EP3185453B1; US20170195022A1; WO2016044997A1; EP3185453A1; EP3185453A4; US10320457B2

2.BEAM TRACKING METHOD DEVICE AND SYSTEM

WEN Rong, LIU Kunpen     More...

專利權人: HUAWEI TECHNOLOGIES     More...

申請號: IN201737014096 申請日: 2017/4/20

公開(公告)號: IN201737014096A 公開(公告)日期: 2017/8/25

IPC分類號: H04L1/06

法律狀態: 暂缺

同族信息: IN201737014096A

3.BEAM TRACKING METHOD, DEVICE AND SYSTEM

WEN Rong, LIU Kunpen     More...

專利權人: Huawei Technologies     More...

申請號: EP14902303 申請日: 2014/9/23

公開(公告)號: EP3185453A1 公開(公告)日期: 2017/6/28

IPC分類號: H04L1/06

法律狀態: 授权

同族信息: EP3185453B1; US20170195022A1; WO2016044997A1; EP3185453A1; EP3185453A4; US10320457B2

4.BEAM TRACKING METHOD, DEVICE AND SYSTEM

WEN Rong, LIU Kunpen     More...

專利權人: HUAWEI TECHNOLOGIES     More...

申請號: WOCN14087207 申請日: 2014/9/23

公開(公告)號: WO2016044997A1 公開(公告)日期: 2016/3/31

IPC分類號: H04L1/06

法律狀態: 进入国家阶段-PCT有效期满

同族信息: EP3185453B1; US20170195022A1; WO2016044997A1; EP3185453A1; EP3185453A4; US10320457B2

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