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    1.Improved device reliability in organic light emitting devices by controlling the etching of indium zinc oxide anode

    Liao, YJ, Lou, YH, W     More...

    CHINESE PHYSICS B[1674-1056], Published 2014, Volume 23, Issue 11, Pages 638-642

    收錄情况: WOS SCOPUS CNKI

    WOS核心合集引用:  2023影響因子:  1.5  发表年影響因子:  1.603 

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