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    1.IC-SAM: Segment Anything for Industrial Integrated Circuit Chip Inspection

    Deng, FQ, Xu, Z, Shi     More...

    ELECTRONICS[2079-9292], Published 2026, Volume 15, Issue 11,

    收錄情况： WOS SCOPUS

    WOS核心合集引用: 0  2025影響因子:  2.9 

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